InGaAs线阵扫描相机
SWIR（短波红外）成像是无损检测的优良解决方案。它可以根据物体表面SWIR光谱特征区分材料，并提供安全便捷的方法来保证产品质量，包括检查包装中的液体质量，检查密封容器里的内容以及检测农产品中的损坏和杂志等。另外，还可以在半导体工业中进行硅晶圆的太阳能电池缺陷检查。将SWIR成像方式集成到产线中需要高行频，高灵敏度的相机，针对这些应用，滨松目前正是推出了新型C15333-10EInGaAs线阵扫描相机。
主要特点：
● SWIR高灵敏度，覆盖950 nm到1700 nm的光谱范围
● 大视场高分辨率，1024像素线阵
● 高行频输出，线路速率：40 kHz
● 紧凑轻巧的设计：49 mm (W) × 49 mm (H) × 100 mm (D) (Does not include protrusions.)，
● 小巧轻便，重量约250克
● 高质量的图像以及优秀的矫正功能
●GigE Vision接口
主要应用：
● 食品和农产品（损坏检查，质量筛选，材料歧视等）
● 半导体（硅晶片图案检查，EL / PL的太阳能电池检查等）
● 工业（水分，泄漏检测，容器检查等）
光谱响应范围：
主要参数：
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产品型号 |
C15333-10E |
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有效像素数 |
1024 (H) × 1 (V) |
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像素尺寸 |
12.5 μm (H) × 12.5 μm (V) |
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有效面积 |
12.8 mm (H) × 0.0125 mm (V) |
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满阱容量 |
Gain 0: 4.0 M electrons Gain 1: 0.76 M electrons Gain 2: 0.16 M electrons Gain 3: 0.051 M electrons |
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读出速度 |
Internal mode: 40 kHz (21 μs exposure time) Sync readout: 40 kHz |
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曝光时间 |
21 μs to 1 s (1 μs step) |
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外部触发输入 |
Sync readout |
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外部触发信号路径 |
12 pin SMA or HIROSE connector |
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图像处理功能 |
Background subtraction, Real time shading correction |
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接口 |
Gigabit Ethernet |
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A/D转换器 |
14 bit |
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镜头卡口 |
C mount |
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电源 |
DC 12 V |
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量子效率 |
above 60 % (1100 nm ～ 1600 nm) * |
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功耗 |
6 W max. |
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推荐环境工作温度 |
0 ℃ to +40 ℃ |
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环境储存温度 |
-10 ℃ to +50 ℃ |
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环境工作湿度 |
30 % to 80 % (with no condensation) |
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环境储存湿度 |
90 % max. (with no condensation) |
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成像器件 |
InGaAs line sensor |
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产品名称：InGaAs线阵扫描相机
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产品型号：C15333-10E
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产品品牌：Hamamatsu
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咨询电话：13681635035
